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  • iSpecRad-HS400-CALLED光譜輻射測量系統(tǒng)
    iSpecRad-HS400-CALLED光譜輻射測量系統(tǒng) LED光譜輻射測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于各種LED燈管及燈具、LED燈珠、氘燈、氙燈等輻射光源的光譜輻射測量,萊森光學(xué)光譜輻射測量系統(tǒng)溯源與NIM(國內(nèi)計量科學(xué)研究院),也可以配置溯源美國NIST光通量標(biāo)準燈,在250-2500nm光譜相對偏差優(yōu)于1%。
    01

    更新日期

    2025-01-09
    02

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  • iSpecRad-HR400紫外光譜輻射儀
    iSpecRad-HR400紫外光譜輻射儀 紫外光譜輻射儀是介于X射線與可見光波段之間,波長在100-400nm電磁波光譜,我們常用的紫外光譜主要集中在200-400nm,按其光譜波長劃分UV-A(315-400nm)、UV-B(280-315nm)、UV-C(200-280nm)、UV-D真空紫外(100-200nm)。UV-A波段常稱為長波黑斑效應(yīng)紫外線,有很強的穿透力,人體照射直達肌膚的真皮層,破壞彈性纖維和膠原蛋白纖維.
    01

    更新日期

    2025-01-08
    02

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  • ispec-TMS100-IND一體化IR孔微區(qū)透反射光譜測量系統(tǒng)
    ispec-TMS100-IND一體化IR孔微區(qū)透反射光譜測量系統(tǒng) 一體化IR孔微區(qū)透反射光譜測量系統(tǒng)具有測量快速,準確,方便集成等優(yōu)點,目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用到實驗室檢測、產(chǎn)品在線測試等應(yīng)用。
    01

    更新日期

    2025-01-02
    02

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  • iSpec-R100顯微球面反射率測量光譜儀
    iSpec-R100顯微球面反射率測量光譜儀 顯微球面反射率測量光譜儀是專門針對全波長顯微球面光學(xué)元件表面反射率測量的最新產(chǎn)品,適用范圍廣,除了能夠快速且精確的測量各種光學(xué)元件及光學(xué)材料、球面與非球面產(chǎn)品(包括平面鏡片)的相對及絕對反射率,還可以選配增加光學(xué)元件的折射率進行分析。
    01

    更新日期

    2025-01-02
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  • ispecRaman-M785顯微拉曼光譜儀
    ispecRaman-M785顯微拉曼光譜儀 顯微拉曼光譜儀由光纖光譜儀、拉曼穩(wěn)譜激光器、拉曼探頭、LED光源、金相顯微鏡等部分構(gòu)成,通過把光譜模塊集成到顯微鏡上,實現(xiàn)拉曼光譜信息的測量,其中采用兩光路拉曼系統(tǒng)(785nm,1064nm)可以自由切換,對同一物質(zhì)進行雙波長測量。
    01

    更新日期

    2025-01-02
    02

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  • ispecMsHyper-VIS1000iSpecMS系列顯微光譜成像測量系統(tǒng)
    ispecMsHyper-VIS1000iSpecMS系列顯微光譜成像測量系統(tǒng) iSpecMS系列顯微光譜成像測量系統(tǒng)是一款兼具空間成像和光譜分析能力顯微光譜成像測量系統(tǒng),可以測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或一體化的精密顯微光譜系統(tǒng)。系統(tǒng)主要由科研級金相顯微鏡、高靈敏度光譜儀、激發(fā)光源、光譜分析軟件組成,同時可以搭配手動/旋轉(zhuǎn)/可編程電控位移臺,配置可編程電控位移臺可實現(xiàn)顯微光譜Mapping功能。
    01

    更新日期

    2025-01-02
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    361
  • iSpec-TR400-IR球面透鏡透反射一體式光譜儀
    iSpec-TR400-IR球面透鏡透反射一體式光譜儀 球面透鏡透反射一體式光譜儀廣泛應(yīng)用于、光學(xué)手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等各種各種光學(xué)元件及光學(xué)材料、球面與非球面產(chǎn)品(包括平面鏡片)相對及絕對透反射率測量。
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    2025-01-02
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  • iSpecBSDFBSDF雙向透反射分布函數(shù)光譜測量系統(tǒng)
    iSpecBSDFBSDF雙向透反射分布函數(shù)光譜測量系統(tǒng) BSDF雙向透反射分布函數(shù)光譜測量系統(tǒng)是一款專門測量光學(xué)材料表面的雙向反射/透射分布函數(shù)和光學(xué)材料各向同性材料研究,該系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于航天遙感、地質(zhì)測量、精密制導(dǎo)、目標(biāo)仿真,光學(xué)設(shè)計,AR/VR/MR等領(lǐng)域,同時可實現(xiàn)對玻璃、金屬、塑料、紙張、紡織品、油漆、涂層、光學(xué)膜材料等諸多材料的表面光學(xué)特性的定量分析,是研究物質(zhì)、材料的基礎(chǔ)物理特性非常重要的光學(xué)測試工具。
    01

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    2025-01-02
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